Risultati per: dudek (2)
Non più in commercio
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen- Massenspektrometrie, AES Aufer-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
di M. Grasserbauer; H.J. Dudek; Maria F. Ebel
Springer & Verlag
fuori catalogo (5) - 1986
Non più in commercio
Protonen-Kernresonanz-Spektroskopie
Eine Einführung
di A. Ault; G.O. Dudek; W. Brügel
Springer & Verlag
fuori catalogo (5) - 1978
